Microscopía Electrónica

Newtec tiene una experiencia de más de veinticinco años en la adquisición de imágenes de microscopía electrónica de barrido. La velocidad SEM analógica de la nueva tarjeta de adquisición Slow-Scan PCI permite una buena observación a todas las velocidades de barrido con una integración óptima y un aumento en la relación señal / ruido.

Esta tarjeta asegura en tiempo real la adquisición y el procesamiento espacial proviniendo del señal de los detectores instalados: electrones secundarios, retro difundido absorbido… La imagen se forma en relación a los análisis utilizados por el operador sin la necesidad de generadores externos.

Todas las exploraciones instalados por el fabricante del microscopio se reconocen. La transparencia del sistema hace que sea muy fácil de usar.

Ventajas:

  • Excelente cualidad de la imagen, la tarjeta trata en tiempo real el ruido contenido en la señal.
  • Recuperación del engrandecimiento de la imagen o sea por RS 232 o sea por puerto TTL que sigue el material a equipar.
  • Generación rápida desde el software Axone de tablas completas con destino a la impresora o con destino al correo electrónico al formato PDF.
  • Hemos equipado Más de cien SEM.